鹏力智造“桌面式自动光学检测设备”专家评审会顺利召开

近日，鹏力智造 “桌面式自动光学检测设备”评审会在南京顺利召开。会议由南京信息工程大学禹胜林教授主持，合肥、南京、南通、扬州等地11位光学检测行业顶尖专家参加评审。

据了解，自动光学检测是利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检出异物或图案异常等瑕疵。作为近几年才兴起的一种新型测试技术，AOI发展迅速，在半导体芯片检测领域发挥着不可忽视的作用，是半导体芯片质量保证的坚实基础。随着半导体芯片产量的提升以及先进封装技术的进步，市场对芯片质量的要求以及芯片测试设备的性能要求也逐渐提升，产量、精度与稳定性三者兼而有之的产品才能获得市场的青睐。未来，半导体检测市场产值将占总体半导体设备产业的15%-20%。

会议现场，与会专家听取了项目组的成果汇报，经现场考察、实际操作、质询讨论，专家组一致认为该项目采用高精度运动控制、高精密光学成像、智能缺陷检测等技术，实现了不同尺寸芯片的高精度成像，单芯片尺寸最大检测范围达6.4mm*6.4mm，成像精度达0.5um，检测图像处理速度优于0.5s/FOV，满足设计指标要求。该项目能够准确识别出破损、崩边、异物、划伤、裂纹等多种缺陷，实现不同型号的裸芯片检测。项目关键技术自主可控，在裸芯片检测领域具有广泛的应用前景和推广价值。

见微知著，一丝不苟。鹏力智造将坚持不断创新，依托在机器视觉等领域的深厚积淀，在半导体芯片封装的来料、过程检测各领域进行体系化布局，不断提高自身的体系化贡献率，做自动化测试领域的佼佼者。